Сейши Кикучи

Сейши Кикучи
Сейши Кикучи
Рожденный	25 августа 1902 г. ; Токио
Умер	12 ноября 1974 г. ( 72 года
Альма-матер	Токийский Императорский университет
	Научная карьера
Поля	Физика

Сэйси Кикучи ( 菊池正士 , Кикучи Сейши , 25 августа 1902 — 12 ноября 1974) — японский физик , известный своим объяснением линий Кикучи , которые проявляются на дифракционных картинах диффузно рассеянных электронов .

Исследование Кикучи было записано в официальном протоколе отбора Нобелевской премии 1930-х годов. ^[1]

Биография

Сейши Кикучи родился и вырос в Токио. В 1926 году окончил Токийский императорский университет .

В 1928 году Кикучи и Сёдзи Нисикава наблюдали и дали теоретическое объяснение картины дифракции обратного рассеяния электронов на поверхности скола кальцита . ^[2] В 1929 году он уехал в Германию в качестве студента и остался в Гёттингенском и Лейпцигском университетах . В 1934 году он был назначен профессором Императорского университета Осаки и руководил строительством первого в Японии высоковольтного ускорителя Кокрофта-Уолтона постоянного тока .

В 1955 году он был назначен первым директором Института ядерных исследований Токийского университета и успешно руководил завершением строительства циклотрона переменной энергии .

С 1959 по 1964 год он был председателем Японского научно-исследовательского института атомной энергии .

Ссылки

↑ Университет Осаки, к несчастью, еще не получил Нобелевской премии. Самый «близкий» из них — Нихон Кэйзай Симбун;
^ Т. Мейтленд и С. Ситцман, «Техника дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD) и примеры характеристики материалов», в книге В. Чжоу и З. Л. Ван, ред., Сканирующая микроскопия для нанотехнологий: методы и приложения, издание 2007 г. , Springer (2007 г.) , ISBN 978-0387333250 , стр. 41-75.

Эта статья о японском ученом незавершена . Вы можете помочь Википедии, расширив ее .

Эта статья о физике незавершена . Вы можете помочь Википедии, расширив ее .

[1] Университет Осаки, к несчастью, еще не получил Нобелевской премии. Самый «близкий» из них — Нихон Кэйзай Симбун;

[2] Т. Мейтленд и С. Ситцман, «Техника дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD) и примеры характеристики материалов», в книге В. Чжоу и З. Л. Ван, ред., Сканирующая микроскопия для нанотехнологий: методы и приложения, издание 2007 г. , Springer (2007 г.) , ISBN 978-0387333250 , стр. 41-75.

[1]

[2]

Базы данных авторитетного контроля
Международный	БЫСТРЫЙ ЯВЛЯЮТСЯ ВИАФ WorldCat
Национальный	Германия Соединенные Штаты Япония
академики	ЦиНии
Люди	Немецкая биография
Другой	ЗАКУСКА