Покрытие неисправностей
 | Эта статья нуждается в дополнительных цитатах для проверки . ( апрель 2024 г. ) |
Покрытие неисправностей означает процент ошибок определенного типа , которые могут быть обнаружены во время тестирования любой инженерной системы. такие методы, как Design For Test (DFT) и автоматическое создание тестовых таблиц Высокая степень покрытия неисправностей особенно ценна во время производственных испытаний, и для ее увеличения используются .
Приложения
[ редактировать ]Цифровая электроника
[ редактировать ]В цифровой электронике под покрытием неисправностей понимается покрытие застрявших неисправностей . [1] Он измеряется путем установки каждого контакта аппаратной модели на логический «0» и логическую «1» соответственно и запуска тестовых векторов. Если хотя бы один из выходных данных отличается от ожидаемого, говорят, что неисправность обнаружена. Концептуально общее количество запусков моделирования в два раза превышает количество штифтов (поскольку каждый штифт застревает одним из двух способов, и обе неисправности должны быть обнаружены). Однако существует множество оптимизаций, которые могут сократить необходимые вычисления. В частности, часто за один прогон можно смоделировать множество невзаимодействующих неисправностей, и каждое моделирование может быть прекращено, как только будет обнаружена неисправность.
Тест покрытия ошибок считается успешным, когда может быть обнаружен хотя бы указанный процент всех возможных ошибок. Если не пройдет, возможны как минимум три варианта. Во-первых, разработчик может дополнить или иным образом улучшить набор векторов, возможно, используя более эффективный инструмент автоматической генерации тестовых шаблонов . Во-вторых, схема может быть переопределена для улучшения обнаружения неисправностей (улучшение управляемости и наблюдаемости). В-третьих, дизайнер может просто согласиться на меньшее покрытие.
См. также
[ редактировать ]- Проектирование для тестирования
- Автоматическое создание тестовых таблиц
- Автоматизация электронного проектирования
- Обнаружение и изоляция неисправностей
Ссылки
[ редактировать ]- ^ Уильямс, Томас В.; Сантер, Стивен К. (2000). Как следует определять покрытие неисправностей? . 18-й симпозиум по тестированию IEEE VLSI (VTS 2000), 30 апреля - 4 мая 2000 г., Монреаль, Канада. стр. 325–328. дои : 10.1109/ВТС.2000.10003 .