Элементарное сравнительное тестирование

Элементарное сравнительное тестирование ( ECT ) — это методология «белого ящика» с потоком управления , и проектирования тестов используемая при разработке программного обеспечения . ^[1]^[2] Цель ECT — обеспечить детальное тестирование сложного программного обеспечения. Программный код или псевдокод тестируются для оценки правильной обработки всех результатов решений. Как и в случае покрытия с множеством условий ^[3] и тестирование базового пути , ^[1] охват всех независимых и изолированных условий достигается посредством модифицированного покрытия условий/решений (MC/DC) . ^[4] Изолированные условия объединяются в связанные ситуации, создавая формальные тестовые примеры . Независимость условия демонстрируется изолированным изменением значения условия. Каждое соответствующее значение условия покрывается тестовыми примерами .

Тестовый пример

Тестовый пример представляет собой логический путь через одно или несколько решений от начала до конца процесса. Противоречивые ситуации выводятся из матрицы тестовых примеров и исключаются. Подход MC/DC изолирует каждое условие, игнорируя все возможные комбинации подпутей и покрытие пути. ^[1] $T=n+1$ где

T — количество тестовых случаев на одно решение и
n количество условий.

Решение $d_{i}$ состоит из совокупности элементарных условий

${\begin{aligned}\Sigma &=\{0,1\}\\C&=\{c_{0},c_{1},c_{2},c_{3},...,c_{n}\}\end{aligned}}$ $\epsilon :C\to \Sigma \times C$ $D\subseteq C^{*}\,;\;d_{i}\in D$

Функция перехода $\alpha$ определяется как $\alpha :D\times \Sigma ^{*}\to \Sigma \times D$

Учитывая переход $\vdash$ $\vdash \subseteq (\Sigma \times D\times \Sigma ^{*})\times (\Sigma \times D\times \Sigma ^{*})$

$S_{j}=(b_{j},d_{m},v_{j})\vdash (b_{j+1},d_{n},v_{j+1})$ $E_{j}=(a_{j},c_{j})\vdash (a_{j+1},c_{k})$ $(b_{j+1},d_{n})=\alpha (d_{m},v_{j});(b_{j+1},c_{k})=\epsilon (c_{j});a_{j}\in \Sigma ,$ изолированный тестовый путь $P_{m}$ состоит из ${\begin{aligned}P_{m}&=(b_{0},d_{0},v_{0})\vdash ...\vdash (b_{i},d_{i},v_{i})\vdash ^{*}(b_{n},d_{n},v_{n})\\&=(b_{0},c_{0})\vdash ...\vdash (b_{m},c_{m})\vdash ^{*}(b_{n},c_{n})\end{aligned}}$ $b_{i}\in \Sigma ;c_{m}\in d_{i};v\in C^{*};d_{0}=S;d_{n}=E.$

График тестового примера

Граф тестовых примеров иллюстрирует все необходимые независимые пути (тестовые примеры) для покрытия всех изолированных условий. Условия представлены узлами, а значения условий (ситуации) — ребрами. Edge учитывает все программные ситуации. Каждая ситуация связана с одним предшествующим и последующим состоянием. Тестовые случаи могут перекрываться из-за изолированных условий.

Индуктивное доказательство ряда путей условий

Элементарный метод сравнительного тестирования можно использовать для определения количества путей условий путем индуктивного доказательства.

Есть $r=2^{n}$ возможные комбинации значений условий $\forall {i}\in \{1,...,n\},\ c_{i}\mapsto \{0,\ 1\}.$

Когда каждое условие $c_{i}$ изолировано, количество необходимых тестовых случаев $T$ за решение составляет: $T=\log _{2}(r)+1=n+1.$

$\forall {i}\in \{1,...,n\}$ есть $0<e<i+1$ ребра от родительских узлов $c_{i}$ и $s=2$ ребра к дочерним узлам из $c_{i}$ .

Каждое отдельное состояние $c_{i}$ соединяется хотя бы с одним путем $\forall {i}\in \{1,...,n-1\},\ c_{i}\mapsto \{0,\ 1\}$ от максимально возможного $n$ подключение к $c_{n}$ изолирующий $c_{n}$ .

Все предшествующие условия $c_{i};\ i<n$ и соответствующие пути изолированы. Таким образом, при добавлении одного узла (условия) общее количество путей и требуемых тестовых случаев от начала до конца увеличивается на: $T=n-1+2=n+1.$ КЭД

Этапы разработки тестового примера

Определить решения
Определить тестовые ситуации для каждой точки принятия решения ( модифицированное условие/покрытие решений )
Создайте логическую матрицу тестовых примеров
Создайте матрицу физического тестового примера

Пример

В этом примере показано применение ETC к системе бронирования отпусков. Система скидок предлагает отдых по сниженным ценам. Предлагаемые скидки $-20\%$ для участников или для дорогого отдыха, $-10\%$ для умеренного отпуска с отъездами в рабочие дни, и $0\%$ в противном случае. В примере показано создание логических и физических тестовых примеров для всех изолированных условий.

Псевдокод

if days > 15 or price > 1000 or member then
    return −0.2
else if (days > 8 and days ≤ 15 or price ≥ 500 and price ≤ 1000) and workday then
    return −0.1
else
    return 0.0

Факторы

Количество дней: $<8;\ 8-15;\ >15$
Цена (евро): $<500;\ 500-1000;\ >1000$
Членская карта: нет; серебро; золото; платина
Дата выезда: рабочий день; выходные; праздничный день

$T=3\times 3\times 4\times 3=108$ возможные комбинации (тестовые случаи).

Пример на Python :

if days > 15 or price > 1000 or member:
    return -0.2
elif (days > 8 and days <= 15 or price >= 500 and price <= 1000) and workday:
    return -0.1
else:
    return 0.0

Шаг 1: Решения

Таблица 1: Пример D1 MC/DC
		Исход
Решение D1		1			0
Условия		с1	с2	с3	с1	с2	с3
с1	${\text{days}}>15$	1	0	0	0	0	0
с2	${\text{price}}>1000$	0	1	0	0	0	0
с3	${\text{member}}$	0	0	1	0	0	0

${\begin{aligned}d_{1}&={\text{days}}>15\ {\text{or}}\ {\text{price}}>1000\ {\text{Eur}}\ {\text{or}}\ {\text{member}}\\c_{1}&={\text{days}}>15\\c_{2}&={\text{price}}>1000\\c_{3}&={\text{member}}\\\end{aligned}}$ ${\begin{aligned}d_{2}&=(8<{\text{days}}<15\ {\text{or}}\ 500<{\text{price}}<1000\ {\text{Eur}})\ {\text{and}}\ {\text{workday}}\\c_{4}&=8<{\text{days}}<15\\c_{5}&=500<{\text{price}}<1000\ {\text{Eur}}\\c_{6}&={\text{workday}}\\\end{aligned}}$

Шаг 2: Матрица MC/DC

Таблица 2: Пример D2 MC/DC
		Исход
Решение D2		1			0
Условия		с4	с5	с6	с4	с5	с6
с4	$8<{\text{days}}<15$	1	0	1	0	0	1
с5	$500<{\text{price}}<1000$	0	1	1	0	0	1
с6	${\text{workday}}$	1	0	1	1	0	0

Выделенные диагонали в матрице MC/DC описывают изолированные условия: $(c_{i},c_{i})\mapsto \{1,0\}$ все повторяющиеся ситуации считаются доказанными и устраненными.

Шаг 3: Логическая матрица тестовых примеров

Таблица 3: Пример матрицы логического тестового примера
Ситуация $S_{j}$	$T_{1}$	$T_{2}$	$T_{3}$	$T_{4}$	$T_{5}$	$T_{6}$	$T_{7}$
$\alpha (d_{1},\mathbf {1} 00)\mapsto (1,E)$	х
$\alpha (d_{1},\mathbf {0} 00)\mapsto (0,d_{2})$		х			х	х	х
$\alpha (d_{1},0\mathbf {1} 0)\mapsto (1,E)$			х
$\alpha (d_{1},00\mathbf {1} )\mapsto (1,E)$				х
$\alpha (d_{2},\mathbf {1} 01)\mapsto (1,E)$		х
$\alpha (d_{2},\mathbf {0} 01)\mapsto (1,E)$						х
$\alpha (d_{2},0\mathbf {1} 1)\mapsto (1,E)$					х
$\alpha (d_{2},11\mathbf {0} )\mapsto (0,E)$							х

Тестовые случаи формируются путем отслеживания путей принятия решений. Для каждого решения $d_{i};\ 0<i<n+1$ последующий и предыдущий подпути ищутся до тех пор, пока у каждого подключенного пути не будет начала $S$ и конец $E$ : ${\begin{aligned}T_{1}&=(d_{1},100)\vdash (1,E)\\T_{2}&=(d_{1},000)\vdash (0,d_{2},100)\vdash (1,E)\\T_{3}&=(d_{1},010)\vdash (1,E)\\\vdots \\T_{n+1}\end{aligned}}$

Шаг 4: Физическая матрица тестовых примеров

Таблица 4. Примеры случаев физического тестирования
Фактор\Тестовый пример	$T_{1}$	$T_{2}$	$T_{3}$	$T_{4}$	$T_{5}$	$T_{6}$	$T_{7}$
дни	16	14			8	8	8
цена			1100			600
отправление							на
член				серебро
Результат
0							0
-10		1			1	1
-20	1		1	1

Физические тестовые примеры создаются на основе логических тестовых примеров путем заполнения представлений фактических значений и соответствующих им результатов.

График тестового примера

В примере графа тестовых случаев все тестовые случаи и их изолированные условия отмечены цветами, а остальные пути передаются неявно.

См. также

Ссылки

^ Jump up to: ^а ^б ^с Ли Коупленд (2004). Руководство для практикующих специалистов по проектированию тестов программного обеспечения , глава 10. Издательство Artech House, Норвуд. ISBN 0140289712 .
^ «Все об элементарном сравнительном тесте | Testlearning» . www.testlearning.net . Проверено 2 сентября 2022 г.
^ Гленфорд Дж. Майерс (2004). Искусство тестирования программного обеспечения, второе издание , с. 40., Джон Уайли и сыновья, Нью-Джерси. ISBN 0-471-46912-2 .
^ Тим Крум (2006). TMap Далее, о тестировании, ориентированном на результат , стр. 668. Издательство UTN, Роттердам. АСИН B01K3PXI5U .

[leecopeland-1] Jump up to: ^а ^б ^с Ли Коупленд (2004). Руководство для практикующих специалистов по проектированию тестов программного обеспечения , глава 10. Издательство Artech House, Норвуд. ISBN 0140289712 .

[2] «Все об элементарном сравнительном тесте | Testlearning» . www.testlearning.net . Проверено 2 сентября 2022 г.

[3] Гленфорд Дж. Майерс (2004). Искусство тестирования программного обеспечения, второе издание , с. 40., Джон Уайли и сыновья, Нью-Джерси. ISBN 0-471-46912-2 .

[4] Тим Крум (2006). TMap Далее, о тестировании, ориентированном на результат , стр. 668. Издательство UTN, Роттердам. АСИН B01K3PXI5U .

[1]

[2]

[3]

[4]