c-диаграмма

c-диаграмма
Первоначально предложено	Уолтер А. Шухарт
Наблюдения за процессом
Рациональный размер подгруппы	п > 1
Тип измерения	Количество несоответствий в выборке
Тип характеристики качества	Данные атрибутов
Базовое распределение	Распределение Пуассона
Производительность
Размер смещения для обнаружения	≥ 1,5п
Диаграмма изменений процесса
Непригодный
Диаграмма средних значений процесса
Центральная линия	${\bar {c}}={\frac {\sum _{i=1}^{m}\sum _{j=1}^{n}{\mbox{no. of defects for }}x_{ij}}{m}}$
Пределы контроля	${\bar {c}}\pm 3{\sqrt {\bar {c}}}$
Построенная статистика	${\bar {c}}_{i}=\sum _{j=1}^{n}{\mbox{no. of defects for }}x_{ij}$

В статистическом контроле качества c -диаграмма представляет собой тип контрольной диаграммы, используемой для мониторинга данных типа «подсчет», обычно общего количества несоответствий на единицу. Иногда его также используют для отслеживания общего количества событий, происходящих в данную единицу времени.

С-диаграмма отличается от р-диаграммы тем, что она учитывает возможность наличия более одного несоответствия на единицу контроля и (в отличие от р-диаграммы и u-диаграммы ) требует фиксированного размера выборки. P-диаграмма моделирует только проверку типа «пройден»/«не пройден», тогда как c-диаграмма (и u-диаграмма ) дает возможность различать (например) два объекта, которые не прошли проверку из-за одной неисправности каждый, и те же два предмета, не прошедшие проверку, по 5 недостатков каждый; в первом случае на p-диаграмме будут показаны два несоответствующих элемента, а на c-диаграмме — 10 ошибок.

Несоответствия также можно отслеживать по типу или местоположению, что может оказаться полезным при отслеживании определяемых причин .

Примеры процессов, подходящих для мониторинга с помощью c-диаграммы, включают:

• Мониторинг количества пустот на единицу контроля в литья под давлением или литья . процессах
• Контроль количества дискретных компонентов, которые необходимо перепаять на одной печатной плате.
• Мониторинг количества возвратов товара в день

Распределение Пуассона является основой диаграммы и требует следующих допущений:

• Количество возможностей или потенциальных мест возникновения несоответствий очень велико.
• Вероятность несоответствия в любом месте мала и постоянна.
• Процедура контроля одинакова для каждого образца и проводится последовательно от образца к образцу.

Пределы управления для этого типа диаграммы: ${\bar {c}}\pm 3{\sqrt {\bar {c}}}$ где ${\bar {c}}$ — это оценка долгосрочного среднего значения процесса, установленного во время настройки контрольной карты.

См. также

• U-диаграмма