Полевой транзистор
Полевой транзистор ( FET ) — это тип транзистора , который использует электрическое поле для управления потоком тока в полупроводнике . Он бывает двух типов: переходной полевой транзистор (JFET) и полевой транзистор металл-оксид-полупроводник (MOSFET). Полевые транзисторы имеют три вывода: исток , затвор и сток . Полевые транзисторы управляют потоком тока путем подачи напряжения на затвор, что, в свою очередь, изменяет проводимость между стоком и истоком.
Полевые транзисторы также известны как униполярные транзисторы, поскольку они работают с одной несущей. То есть полевые транзисторы используют либо электроны (n-канал), либо дырки (p-канал) в качестве носителей заряда в своей работе , но не то и другое. Существует множество различных типов полевых транзисторов. Полевые транзисторы обычно имеют очень высокий входной импеданс на низких частотах. Наиболее широко используемый полевой транзистор — MOSFET (полевой транзистор металл-оксид-полупроводник).
История
[ редактировать ]Концепция полевого транзистора (FET) была впервые запатентована физиком австро-венгерского происхождения Юлиусом Эдгаром Лилиенфельдом в 1925 году. [1] и Оскар Хайль в 1934 году, но они не смогли создать работающее практическое полупроводниковое устройство на основе этой концепции. Транзисторный в 1947 году, вскоре после истечения 17-летнего срока действия эффект позже наблюдали и объяснили Джон Бардин и Уолтер Хаузер Браттейн, работая под руководством Уильяма Шокли в Bell Labs патента. Первоначально Шокли пытался создать рабочий полевой транзистор, пытаясь модулировать проводимость полупроводника , но безуспешно, в основном из-за проблем с поверхностными состояниями , оборванной связью и германия и меди соединениями . В ходе попыток понять загадочные причины, по которым им не удалось создать работающий полевой транзистор, это привело к тому, что Бардин и Брэттейн вместо этого изобрели транзистор с точечным контактом в 1947 году, за которым в 1948 году последовал биполярный переходной транзистор Шокли . [2] [3]
Первым успешно созданным полевым транзистором был полевой транзистор (JFET). [2] JFET был впервые запатентован Генрихом Велькером в 1945 году. [4] Статический индукционный транзистор (SIT), тип JFET с коротким каналом, был изобретен японскими инженерами Дзюнъити Нисидзавой и Ю. Ватанабэ в 1950 году. После теоретического исследования Шокли JFET в 1952 году рабочий практический JFET был построен Джордж К. Дейси и Ян М. Росс в 1953 году. [5] Однако у JFET все еще были проблемы, влияющие на переходные транзисторы в целом. [6] Соединительные транзисторы были относительно громоздкими устройствами, которые было трудно производить серийно , что ограничивало их ряд специализированных применений. Полевой транзистор с изолированным затвором (IGFET) теоретически рассматривался как потенциальная альтернатива переходным транзисторам, но исследователи не смогли создать работающие IGFET, в основном из-за проблемного барьера поверхностного состояния, который препятствовал проникновению внешнего электрического поля в материал. [6] К середине 1950-х годов исследователи в значительной степени отказались от концепции полевых транзисторов и вместо этого сосредоточились на технологии биполярных переходных транзисторов (BJT). [7]
Основы технологии MOSFET были заложены работами Уильяма Шокли , Джона Бардина и Уолтера Браттейна . Шокли независимо предложил концепцию полевого транзистора в 1945 году, но ему не удалось создать работающее устройство. В следующем году Бардин объяснил свою неудачу терминами поверхностных состояний . Бардин применил теорию поверхностных состояний к полупроводникам (предыдущая работа по поверхностным состояниям была проведена Шокли в 1939 году и Игорем Таммом в 1932 году) и понял, что внешнее поле блокируется на поверхности из-за дополнительных электронов, которые притягиваются к поверхности полупроводника. Электроны попадают в ловушку в этих локализованных состояниях, образуя инверсионный слой. Гипотеза Бардина ознаменовала рождение физики поверхности . Затем Бардин решил использовать инверсионный слой вместо очень тонкого слоя полупроводника, который Шокли предполагал в своих конструкциях полевых транзисторов. Основываясь на своей теории, в 1948 году Бардин запатентовал прародителя МОП-транзистора — полевой транзистор с изолированным затвором (IGFET) с инверсионным слоем. Инверсионный слой ограничивает поток неосновных носителей, увеличивая модуляцию и проводимость, хотя его транспорт электронов зависит от изолятора затвора или качества оксида, если он используется в качестве изолятора, нанесенного над инверсионным слоем. Патент Бардина, а также концепция инверсионного слоя составляют сегодня основу КМОП-технологии. В 1976 году Шокли описал гипотезу поверхностного состояния Бардина «как одну из наиболее важных исследовательских идей в программе полупроводников». [8]
После появления теории поверхностных состояний Бардина трио попыталось преодолеть эффект поверхностных состояний. В конце 1947 года Роберт Гибни и Браттейн предложили использовать электролит, помещенный между металлом и полупроводником, для преодоления эффектов поверхностных состояний. Их полевой транзистор работал, но усиление было плохим. Бардин пошел дальше и предложил сосредоточиться на проводимости инверсионного слоя. Дальнейшие эксперименты заставили их заменить электролит слоем твердого оксида в надежде получить лучшие результаты. Их целью было проникнуть через оксидный слой и добраться до инверсионного слоя. Однако Бардин предложил перейти с кремния на германий , и при этом их оксид случайно смылся. Они наткнулись на совершенно другой транзистор — точечный транзистор . Лилиан Ходдесон утверждает, что «если бы Браттейн и Бардин работали с кремнием, а не с германием, они бы наткнулись на успешный полевой транзистор». [8] [9] [10] [11] [12]
К концу первой половины 1950-х годов, после теоретических и экспериментальных работ Бардина, Браттейна, Кингстона, Моррисона и других, стало более ясно, что существует два типа поверхностных состояний. Было обнаружено, что быстрые поверхностные состояния связаны с объемом и границей раздела полупроводник/оксид. Было обнаружено, что медленные поверхностные состояния связаны с оксидным слоем из-за адсорбции атомов, молекул и ионов оксидом из окружающей среды. Было обнаружено, что последних гораздо больше, и время релаксации у них гораздо больше . В то время Фило Фарнсворт и другие придумали различные методы получения атомарно чистых полупроводниковых поверхностей.
В 1955 году Карл Фрош и Линкольн Деррик случайно покрыли поверхность кремниевой пластины слоем диоксида кремния . Они показали, что оксидный слой препятствует попаданию одних легирующих примесей в кремниевую пластину, в то же время допуская попадание других, тем самым обнаружив пассивирующий эффект окисления на поверхности полупроводника. Их дальнейшая работа продемонстрировала, как вытравливать небольшие отверстия в оксидном слое для диффузии легирующих примесей в выбранные области кремниевой пластины. В 1957 году они опубликовали исследовательскую работу и запатентовали свою методику, обобщив свою работу. Разработанная ими технология известна как оксидно-диффузионная маскировка, которая позже будет использоваться при изготовлении устройств MOSFET. В Bell Labs важность техники Фроша сразу осознали. Результаты их работы были распространены в Bell Labs в виде заметок BTL, а затем были опубликованы в 1957 году. В Shockley Semiconductor Шокли в декабре 1956 года разослал препринт своей статьи всем своим старшим сотрудникам, включая Джина Эрни. . [6] [13] [14]
В 1955 году Ян Манро Росс подал патент на FeFET или MFSFET. Его структура напоминала структуру современного МОП-транзистора с инверсионным каналом, но в качестве диэлектрика/изолятора вместо оксида использовался сегнетоэлектрик. Он представлял это как форму памяти за несколько лет до появления МОП-транзистора с плавающим затвором . В феврале 1957 года Джон Уоллмарк подал патент на полевой транзистор , в котором монооксид германия в качестве диэлектрика затвора использовался , но он не стал реализовывать эту идею. В другом своем патенте, поданном в том же году, он описал полевой транзистор с двойным затвором . В марте 1957 года в своем лабораторном блокноте Эрнесто Лабате, ученый-исследователь из Bell Labs , придумал устройство, похожее на предложенный позже МОП-транзистор, хотя в устройстве Лабате явно не использовался диоксид кремния в качестве изолятора. [15] [16] [17] [18]
Металлооксидно-полупроводниковый полевой транзистор (MOSFET)
[ редактировать ]Прорыв в исследованиях полевых транзисторов произошел благодаря работе египетского инженера Мохамеда Аталлы в конце 1950-х годов. [3] В 1958 году он представил экспериментальную работу, которая показала, что выращивание тонкого оксида кремния на чистой поверхности кремния приводит к нейтрализации поверхностных состояний. Это известно как пассивация поверхности — метод, который стал критически важным для полупроводниковой промышленности , поскольку сделал возможным массовое производство кремниевых интегральных схем . [19] [20]
( Полевой транзистор металл-оксид-полупроводник MOSFET) был изобретен Мохамедом Аталлой и Давоном Кангом в 1959 году. [21] [22] МОП-транзистор в значительной степени вытеснил как биполярный транзистор, так и JFET. [2] и оказал глубокое влияние на развитие цифровой электроники . [23] [22] Благодаря высокой масштабируемости , [24] и гораздо более низкое энергопотребление и более высокая плотность, чем у транзисторов с биполярным переходом, [25] MOSFET позволил создавать интегральные схемы высокой плотности . [26] MOSFET также способен выдерживать более высокую мощность, чем JFET. [27] МОП-транзистор был первым по-настоящему компактным транзистором, который можно было миниатюризировать и производить серийно для широкого спектра применений. [6] Таким образом, MOSFET стал наиболее распространенным типом транзисторов в компьютерах, электронике, [20] и коммуникационные технологии (например, смартфоны ). [28] Ведомство по патентам и товарным знакам США называет это «революционным изобретением, которое изменило жизнь и культуру во всем мире». [28]
КМОП (дополнительная МОП), процесс изготовления полупроводниковых устройств для МОП-транзисторов, был разработан Чи-Танг Са и Фрэнком Ванлассом в Fairchild Semiconductor в 1963 году. [29] [30] Первое сообщение о МОП-транзисторе с плавающим затвором было сделано Давоном Кангом и Саймоном Се в 1967 году. [31] МОП -транзистор с двойным затвором был впервые продемонстрирован в 1984 году исследователями Электротехнической лаборатории Тошихиро Секигава и Ютака Хаяси. [32] [33] FinFET (плавниковый полевой транзистор), тип трехмерного непланарного многозатворного МОП-транзистора, возник в результате исследования Дига Хисамото и его команды в Центральной исследовательской лаборатории Hitachi в 1989 году. [34] [35]
Основная информация
[ редактировать ]Полевые транзисторы могут быть устройствами с основными носителями заряда, в которых ток переносится преимущественно основными носителями заряда, или устройствами с неосновными носителями заряда, в которых ток возникает в основном за счет потока неосновных носителей заряда. [36] Устройство состоит из активного канала, по которому носители заряда, электроны или дырки , перетекают от истока к стоку. Проводники истока и стока подключаются к полупроводнику через омические контакты . Проводимость канала является функцией потенциала, приложенного к клеммам затвора и истока.
Три клеммы полевого транзистора: [37]
- источник (S), через который несущие входят в канал. Обычно ток, входящий в канал S, обозначается I S .
- сток (D), через который носители покидают канал. Обычно ток, выходящий из канала D, обозначается ID . Напряжение сток-исток составляет V DS .
- ворота (G), терминал, который модулирует проводимость канала. Подавая напряжение на G, можно управлять I D .
Подробнее о терминалах
[ редактировать ]Все полевые транзисторы имеют выводы истока , стока и затвора которые примерно соответствуют эмиттеру , коллектору и базе BJT , . Большинство полевых транзисторов имеют четвертый вывод, называемый корпусом , основанием , корпусом или подложкой . Этот четвертый вывод служит для включения транзистора в работу; Корпусную клемму редко используют в схемотехнических проектах нетривиально, но ее наличие важно при настройке физической компоновки интегральной схемы . Размер затвора, длина L на схеме, представляет собой расстояние между истоком и стоком. Ширина — это протяженность транзистора в направлении, перпендикулярном поперечному сечению на диаграмме (т. е. внутрь экрана или наружу). Обычно ширина намного больше длины ворот. Длина затвора 1 мкм ограничивает верхнюю частоту примерно до 5 ГГц, 0,2 мкм — примерно до 30 ГГц.
Названия терминалов соответствуют их функциям. Терминал ворот можно рассматривать как управляющий открытием и закрытием физических ворот. Эти ворота позволяют электронам проходить через них или блокируют их проход, создавая или устраняя канал между истоком и стоком. На поток электронов от клеммы истока к клемме стока влияет приложенное напряжение. Тело — это просто основная часть полупроводника, в которой расположены затвор, исток и сток. Обычно клемма корпуса подключается к самому высокому или самому низкому напряжению в цепи, в зависимости от типа полевого транзистора. Вывод корпуса и вывод источника иногда соединяются вместе, поскольку источник часто подключается к самому высокому или самому низкому напряжению в цепи, хотя есть несколько применений полевых транзисторов, которые не имеют такой конфигурации, например, передающие затворы и каскодные схемы.
В отличие от BJT, подавляющее большинство полевых транзисторов электрически симметричны. Таким образом, в практических схемах клеммы истока и стока можно менять местами без изменения рабочих характеристик или функций. Это может сбивать с толку, когда на принципиальных схемах и схемах полевые транзисторы кажутся подключенными «обратно», поскольку физическая ориентация полевых транзисторов была определена по другим причинам, например, из соображений компоновки печатной платы.
Влияние напряжения затвора на ток
[ редактировать ]Полевой транзистор управляет потоком электронов (или электронных дырок ) от истока к стоку, влияя на размер и форму «проводящего канала», создаваемого и находящегося под воздействием напряжения (или отсутствия напряжения), приложенного к клеммам затвора и истока. (Для простоты в этом обсуждении предполагается, что тело и источник соединены.) Этот проводящий канал представляет собой «поток», по которому электроны текут от истока к стоку.
n-канальный полевой транзистор
[ редактировать ]В n-канальном устройстве «в режиме истощения» отрицательное напряжение затвор-исток приводит к тому, что область истощения расширяется в ширину и вторгается в канал с боков, сужая канал. Если активная область расширяется, чтобы полностью закрыть канал, сопротивление канала от истока к стоку становится большим, и полевой транзистор фактически отключается, как переключатель (см. рисунок справа, когда ток очень мал). Это называется «отключением», а напряжение, при котором оно происходит, называется «напряжением отсечки». И наоборот, положительное напряжение затвор-исток увеличивает размер канала и позволяет электронам легко течь (см. рисунок справа, когда есть канал проводимости и ток велик).
В n-канальном устройстве «расширенного режима» проводящий канал не существует естественным образом внутри транзистора, и для его создания необходимо положительное напряжение затвор-исток. Положительное напряжение притягивает свободно плавающие электроны внутри тела к затвору, образуя проводящий канал. Но сначала около затвора должно быть притянуто достаточное количество электронов, чтобы противостоять ионам легирующей примеси, добавленным в корпус полевого транзистора; это образует область без мобильных несущих, называемую областью истощения , а напряжение, при котором это происходит, называется пороговым напряжением полевого транзистора. Дальнейшее увеличение напряжения затвор-исток привлечет к затвору еще больше электронов, которые смогут создать активный канал от истока к стоку; этот процесс называется инверсией .
p-канальный полевой транзистор
[ редактировать ]В p-канальном устройстве «режим истощения» положительное напряжение от затвора к телу расширяет истощенный слой, вытесняя электроны к границе раздела затвор-изолятор/полупроводник, оставляя открытой область без носителей неподвижных положительно заряженных ионов-акцепторов.
И наоборот, в устройстве «улучшенного режима» с p-каналом проводящая область не существует, и для создания канала проводимости необходимо использовать отрицательное напряжение.
Влияние напряжения сток-исток на канал
[ редактировать ]Для устройств в режиме улучшения или обеднения, при напряжениях сток-исток, намного меньших, чем напряжения затвор-исток, изменение напряжения затвора приведет к изменению сопротивления канала, а ток стока будет пропорционален напряжению стока (относительно напряжения истока). Напряжение). В этом режиме полевой транзистор работает как переменный резистор, и говорят, что полевой транзистор работает в линейном или омическом режиме. [38] [39]
Если напряжение сток-исток увеличивается, это создает значительное асимметричное изменение формы канала из-за градиента потенциала напряжения от истока к стоку. Форма области инверсии становится «защемленной» вблизи стокового конца канала. Если напряжение сток-исток увеличивается дальше, точка отсечки канала начинает перемещаться от стока к истоку. Говорят, что полевой транзистор находится в режиме насыщения ; [40] хотя некоторые авторы называют его активным режимом для лучшей аналогии с рабочими областями биполярных транзисторов. [41] [42] Режим насыщения или область между омическим сопротивлением и насыщением используется, когда необходимо усиление. Промежуточную область иногда считают частью омической или линейной области, даже если ток стока не является примерно линейным с напряжением стока.
Несмотря на то, что проводящий канал, образованный напряжением затвор-исток, больше не соединяет исток со стоком в режиме насыщения, поток носителей не блокируется. Снова рассматривая n-канальное устройство в режиме улучшения, область истощения в корпусе p-типа существует , окружающая проводящий канал, а также области стока и истока. Электроны, составляющие канал, могут свободно выходить из канала через область обеднения, если они притягиваются к стоку напряжением сток-исток. Обедненная область свободна от носителей заряда и имеет сопротивление, подобное кремнию . Любое увеличение напряжения сток-исток приведет к увеличению расстояния от стока до точки отсечки, увеличивая сопротивление области истощения пропорционально приложенному напряжению сток-исток. Это пропорциональное изменение приводит к тому, что ток сток-исток остается относительно постоянным, независимо от изменений напряжения сток-исток, в отличие от его омического поведения в линейном режиме работы. Таким образом, в режиме насыщения полевой транзистор ведет себя как источник постоянного тока , а не резистор, и может эффективно использоваться в качестве усилителя напряжения. В этом случае напряжение затвор-исток определяет уровень постоянного тока через канал.
Состав
[ редактировать ]Полевые транзисторы могут быть изготовлены из различных полупроводников, из которых кремний наиболее распространенным является . Большинство полевых транзисторов изготавливаются с использованием обычных массовых методы обработки полупроводников , использующие монокристаллическую полупроводниковую пластину в качестве активной области или канала.
Среди наиболее необычных материалов корпуса — аморфный кремний , поликристаллический кремний или другие аморфные полупроводники в тонкопленочных транзисторах или органические полевые транзисторы (OFET), основанные на органических полупроводниках ; часто изоляторы и электроды затвора OFET также изготавливаются из органических материалов. Такие полевые транзисторы производятся с использованием различных материалов, таких как карбид кремния (SiC), арсенид галлия (GaAs), нитрид галлия (GaN) и арсенид индия-галлия (InGaAs).
В июне 2011 года IBM объявила, что успешно использовала полевые транзисторы на основе графена в интегральной схеме . [43] [44] Эти транзисторы способны работать на частоте среза около 2,23 ГГц, что намного выше, чем у стандартных кремниевых полевых транзисторов. [45]
Типы
[ редактировать ]Канал полевого транзистора легируется n-типа для получения полупроводника или полупроводника p-типа. Сток и исток могут быть легированы типом, противоположным каналу, в случае полевых транзисторов в режиме улучшения, или легированы каналом того же типа, что и в полевых транзисторах в режиме обеднения. Полевые транзисторы различают также по способу изоляции канала и затвора. Типы полевых транзисторов включают в себя:
- MOSFET изолятор (полевой транзистор металл-оксид-полупроводник) использует ( обычно SiO 2 ) между затвором и корпусом. Это, безусловно, самый распространенный тип полевого транзистора.
- DGMOSFET ( MOSFET с двумя затворами ) или DGMOS, MOSFET с двумя изолированными затворами.
- IGBT ( биполярный транзистор с изолированным затвором ) — это устройство для управления мощностью. Он имеет структуру, подобную MOSFET, соединенному с биполярным основным каналом проводимости. Они обычно используются в диапазоне рабочих напряжений сток-исток 200–3000 В. Силовые МОП-транзисторы по-прежнему являются предпочтительными устройствами для напряжений сток-исток от 1 до 200 В.
- JLNT ( беспереходный нанопроводной транзистор ) — это тип полевого транзистора (FET), канал которого представляет собой одну или несколько нанопроводов и не имеет каких-либо переходов.
- В MNOS ( транзистор металл-нитрид-оксид-полупроводник ) используется изолятор из слоя нитрид-оксида между затвором и корпусом.
- ISFET ; (ионочувствительный полевой транзистор) можно использовать для измерения концентрации ионов в растворе когда концентрация ионов (например, H + , см. pH-электрод ) изменится, соответственно изменится и ток через транзистор.
- BioFET ( биологически чувствительный полевой транзистор) — это класс датчиков/биосенсоров, основанных на технологии ISFET , которые используются для обнаружения заряженных молекул; когда присутствует заряженная молекула, изменения электростатического поля на поверхности BioFET приводят к измеримому изменению тока через транзистор. К ним относятся ферментно-модифицированные полевые транзисторы (EnFET), иммунологически модифицированные полевые транзисторы (ImmunoFET), генно-модифицированные полевые транзисторы (GenFET), DNAFET , биополевые транзисторы на клеточной основе (CPFET), полевые транзисторы типа «жук/чип» (BeetleFET) и полевые транзисторы на основе ионных каналов. связывание с белками. [46]
- DNAFET ( полевой транзистор ДНК ) — это специализированный полевой транзистор, который действует как биосенсор , используя затвор, сделанный из одноцепочечных молекул ДНК, для обнаружения совпадающих нитей ДНК.
- finFET , включая GAAFET или полевой транзистор с круговым затвором, используемый в процессорных чипах высокой плотности.
- JFET . (переходный полевой транзистор) использует p-n-переход с обратным смещением для отделения затвора от корпуса
- Статический индукционный транзистор (SIT) представляет собой тип JFET с коротким каналом.
- DEPFET представляет собой полевой транзистор, сформированный на полностью обедненной подложке и одновременно действующий как датчик, усилитель и узел памяти. Его можно использовать в качестве датчика изображения (фотонов).
- FREDFET (эпитаксиальный диодный полевой транзистор с быстрым обратным или быстрым восстановлением) — это специализированный полевой транзистор, предназначенный для обеспечения очень быстрого восстановления (выключения) основного диода, что делает его удобным для управления индуктивными нагрузками, такими как электродвигатели , особенно средней мощности. бесщеточные двигатели постоянного тока .
- HIGFET (полевой транзистор с гетероструктурой и изолированным затвором) сейчас используется в основном в исследованиях. [47]
- MODFET (полевой транзистор с модуляционным легированием) представляет собой транзистор с высокой подвижностью электронов, в котором используется структура с квантовой ямой, образованная путем постепенного легирования активной области.
- TFET ( туннельный полевой транзистор ) основан на межзонном туннелировании. [48]
- TQFET (топологический квантовый полевой транзистор) переключает двумерный материал из бездиссипативного топологического изолятора (состояние «включено») в обычный изолятор (состояние «выключено») с помощью приложенного электрического поля. [49]
- HEMT технологии ( транзистор с высокой подвижностью электронов ), также называемый HFET (гетероструктурный полевой транзистор), может быть изготовлен с использованием запрещенной зоны в тройном полупроводнике, таком как AlGaAs . Полностью обедненный широкозонный материал образует изоляцию между затвором и корпусом.
- MESFET p (полевой транзистор металл-полупроводник) заменяет – n-переход JFET барьером Шоттки ; и используется в GaAs и других полупроводниковых материалах III-V.
- NOMFET . — это на основе наночастиц полевой транзистор с органической памятью [50]
- GNRFET (полевой транзистор на основе графеновой наноленты) использует графеновую наноленту . в качестве канала [51]
- VeSFET (полевой транзистор с вертикальной щелью) представляет собой беспереходный полевой транзистор квадратной формы с узкой щелью, соединяющей исток и сток в противоположных углах. Двое ворот занимают другие углы и контролируют ток через щель. [52]
- CNTFET ( полевой транзистор из углеродных нанотрубок ).
- OFET ( органический полевой транзистор ) использует в своем канале органический полупроводник.
- QFET ( квантовый полевой транзистор ) использует преимущества квантового туннелирования, чтобы значительно увеличить скорость работы транзистора за счет устранения области электронной проводимости традиционного транзистора.
- SB-FET (полевой транзистор с барьером Шоттки) представляет собой полевой транзистор с металлическими контактными электродами истока и стока, которые создают барьеры Шоттки как на интерфейсах исток-канал, так и сток-канал. [53] [54]
- GFET — это высокочувствительный полевой транзистор на основе графена, используемый в качестве биосенсоров и химических сенсоров . Благодаря двумерной структуре графена, а также его физическим свойствам, GFET обеспечивают повышенную чувствительность и уменьшают количество «ложных срабатываний» в сенсорных приложениях. [55]
- В Fe FET между затвором используется сегнетоэлектрик , позволяющий транзистору сохранять свое состояние при отсутствии смещения — такие устройства могут иметь применение в качестве энергонезависимой памяти .
- VTFET, или полевой транзистор с вертикальной передачей от IBM в 2021 году, , модификация finFET обеспечивающая более высокую плотность и меньшую мощность. [56]
Преимущества
[ редактировать ]Полевые транзисторы имеют высокое сопротивление току затвор-сток, порядка 100 МОм и более, что обеспечивает высокую степень изоляции между управлением и потоком. Поскольку шум базового тока будет увеличиваться со временем формирования. [ нужны разъяснения ] , [57] Полевой транзистор обычно производит меньше шума, чем биполярный транзистор (BJT), и используется в чувствительной к шуму электронике, такой как тюнеры и малошумящие усилители для ОВЧ и спутниковых приемников. Он не демонстрирует напряжения смещения при нулевом токе стока и является отличным прерывателем сигнала. Обычно он имеет лучшую термическую стабильность, чем BJT. [37]
Поскольку полевые транзисторы управляются зарядом затвора, как только затвор закрывается или открывается, дополнительного энергопотребления не происходит, как это было бы с биполярным переходным транзистором без фиксации или с реле в некоторых состояниях. Это обеспечивает чрезвычайно малое энергопотребление, что, в свою очередь, обеспечивает большую миниатюризацию цепей, поскольку потребность в рассеивании тепла снижается по сравнению с другими типами переключателей.
Недостатки
[ редактировать ]Полевой транзистор имеет относительно низкое соотношение коэффициента усиления и полосы пропускания по сравнению с биполярным транзистором. МОП-транзисторы очень чувствительны к перенапряжению, что требует особого обращения во время установки. [58] Хрупкий изолирующий слой МОП-транзистора между затвором и каналом делает его уязвимым для электростатического разряда или изменения порогового напряжения во время работы. Обычно это не является проблемой после установки устройства в правильно спроектированную схему.
Полевые транзисторы часто имеют очень низкое сопротивление «включено» и высокое сопротивление «выключено». Однако промежуточные сопротивления значительны, поэтому полевые транзисторы могут рассеивать большое количество мощности при переключении. Таким образом, эффективность может привести к быстрому переключению, но это может вызвать переходные процессы, которые могут возбуждать паразитные индуктивности и генерировать значительные напряжения, которые могут попасть на затвор и вызвать непреднамеренное переключение. Поэтому схемы на полевых транзисторах могут требовать очень тщательной компоновки и могут включать компромисс между скоростью переключения и рассеиваемой мощностью. Существует также компромисс между номинальным напряжением и сопротивлением «включенного» состояния, поэтому высоковольтные полевые транзисторы имеют относительно высокое сопротивление «включенного» состояния и, следовательно, потери проводимости. [59]
Режимы отказа
[ редактировать ]Полевые транзисторы относительно надежны, особенно при эксплуатации в пределах температурных и электрических ограничений, установленных производителем (соответствующее снижение номинальных характеристик ). Однако современные устройства на полевых транзисторах часто могут включать в себя корпусной диод . Если характеристики основного диода не принимаются во внимание, полевой транзистор может работать медленно, когда паразитный транзистор включается и пропускает большой ток от стока к истоку, когда полевой транзистор выключен. [60]
Использование
[ редактировать ]Наиболее часто используемый полевой транзистор — это МОП-транзистор . ( Технология CMOS комплементарный металлооксидный полупроводник) является основой современных цифровых интегральных схем . В этой технологии используется схема, в которой (обычно «режим улучшения») p-канальный MOSFET и n-канальный MOSFET соединены последовательно, так что, когда один из них включен, другой выключен.
В полевых транзисторах электроны могут течь по каналу в любом направлении при работе в линейном режиме. Соглашение об именах стоковой клеммы и истоковой клеммы несколько произвольно, поскольку устройства обычно (но не всегда) строятся симметрично от истока к стоку. Это делает полевые транзисторы пригодными для переключения аналоговых сигналов между трактами ( мультиплексирование ). сконструировать твердотельный микшерный пульт Используя эту концепцию, можно , например, . FET обычно используется в качестве усилителя. Например, из-за большого входного сопротивления и низкого выходного сопротивления он эффективен в качестве буфера в конфигурации с общим стоком (истоковый повторитель).
IGBT используются для переключения катушек зажигания двигателей внутреннего сгорания, где важны возможности быстрого переключения и блокировки напряжения.
Исток-закрытый транзистор
[ редактировать ]Транзисторы с истоковым управлением более устойчивы к производственным и экологическим проблемам в электронике большой площади, такой как экраны дисплеев, но работают медленнее, чем полевые транзисторы. [61]
См. также
[ редактировать ]- Химический полевой транзистор
- КМОП
- полевой усилитель
- Эффект поля (полупроводник)
- ФинФЕТ
- FlowFET
- Многозаходное устройство
Ссылки
[ редактировать ]- ^ Лилиенфельд, Дж. Э. «Метод и устройство для управления электрическим током». Архивировано 9 апреля 2022 г. в Wayback Machine. Патент США №. 1745175 (подана: 8 октября 1926 г.; выдана: 28 января 1930 г.).
- ^ Перейти обратно: а б с Ли, Томас Х. (2003). Проектирование КМОП радиочастотных интегральных схем (PDF) . Издательство Кембриджского университета . ISBN 978-1-139-64377-1 . Архивировано из оригинала (PDF) 9 декабря 2019 г. Проверено 20 июля 2019 г.
- ^ Перейти обратно: а б Пуэрс, Роберт; Бальди, Ливио; Вурде, Марсель Ван де; Нутен, Себастьян Э. ван (2017). Наноэлектроника: материалы, устройства, применение, 2 тома . Джон Уайли и сыновья . п. 14. ISBN 978-3-527-34053-8 .
- ^ Грундманн, Мариус (2010). Физика полупроводников . Спрингер Верлаг. ISBN 978-3-642-13884-3 .
- ^ Нисидзава, Дзюн-Ичи (1982). «Переходные полевые устройства». В Ситтиге, Роланд; Роггвиллер, П. (ред.). Полупроводниковые устройства для стабилизации напряжения . Спрингер. стр. 241–272. дои : 10.1007/978-1-4684-7263-9_11 . ISBN 978-1-4684-7265-3 .
- ^ Перейти обратно: а б с д Московиц, Сэнфорд Л. (2016). Инновации в области передовых материалов: управление глобальными технологиями в 21 веке . Джон Уайли и сыновья . п. 168. ИСБН 978-0-470-50892-3 .
- ^ «Основа современного цифрового мира: триумф МОП-транзистора» . Музей истории компьютеров . 13 июля 2010 г. Проверено 21 июля 2019 г.
- ^ Перейти обратно: а б Говард Р. Дафф (2001). «Джон Бардин и физика транзисторов». Материалы конференции AIP . Том. 550. стр. 3–32. дои : 10.1063/1.1354371 .
- ^ Ганс Камензинд (2005). Проектирование аналоговых микросхем .
- ^ Масуд, Хишам З. (1997). ULSI Наука и технологии/1997 . Электрохимическое общество. п. 43. ИСБН 978-1-56677-130-6 .
- ^ Лилиан Ходдесон (1994). «Исследование кристаллических выпрямителей во время Второй мировой войны и изобретение транзистора». История и технологии . 11 (2): 121–130. дои : 10.1080/07341519408581858 .
- ^ Майкл Риордан; Лилиан Ходдесон (1997). Хрустальный огонь: рождение информационного века . WW Нортон и компания. ISBN 978-0-393-04124-8 .
- ^ Кристоф Лекюйер; Дэвид С. Брук; Джей Ласт (2010). Создатели микрочипов: документальная история Fairchild Semiconductor . МТИ Пресс. стр. 62–63. ISBN 978-0-262-01424-3 .
- ^ Клейс, Кор Л. (2003). Интеграция процессов ULSI III: Материалы международного симпозиума . Электрохимическое общество . стр. 27–30. ISBN 978-1-56677-376-8 .
- ^ Лоек, Бо (2007). История полупроводниковой техники . Springer Science & Business Media. п. 324. ИСБН 978-3-540-34258-8 .
- ^ Стефан Фердинанд Мюллер (2016). Разработка сегнетоэлектрической памяти на основе HfO2 для будущих узлов КМОП-технологии . ISBN 978-3-7392-4894-3 .
- ^ Б. Г. Лоу; Р.А. Сарин (2013). Полупроводниковые детекторы рентгеновского излучения . ЦРК Пресс. ISBN 978-1-4665-5401-6 .
- ^ Бассетт, Росс Нокс (2007). В эпоху цифровых технологий: исследовательские лаборатории, стартапы и развитие MOS-технологий . Издательство Университета Джонса Хопкинса. п. 22. ISBN 978-0-8018-8639-3 .
- ^ «Мартин Аталла в Зале славы изобретателей, 2009» . Проверено 21 июня 2013 г.
- ^ Перейти обратно: а б «Давон Кан» . Национальный зал славы изобретателей . Проверено 27 июня 2019 г.
- ^ «1960 — Демонстрация металлооксидно-полупроводникового (МОП) транзистора» . Кремниевый двигатель . Музей истории компьютеров .
- ^ Перейти обратно: а б Лоек, Бо (2007). История полупроводниковой техники . Springer Science & Business Media . стр. 321 –3. ISBN 978-3-540-34258-8 .
- ^ «960 - Демонстрация металлооксидно-полупроводникового (МОП) транзистора» . Кремниевый двигатель . Музей истории компьютеров .
- ^ Мотоёси, М. (2009). «Сквозное кремниевое отверстие (ТСВ)». Труды IEEE . 97 (1): 43–48. дои : 10.1109/JPROC.2008.2007462 . ISSN 0018-9219 . S2CID 29105721 .
- ^ «Транзисторы поддерживают закон Мура» . ЭТаймс . 12 декабря 2018 года . Проверено 18 июля 2019 г.
- ^ «Кто изобрел транзистор?» . Музей истории компьютеров . 4 декабря 2013 года . Проверено 20 июля 2019 г.
- ^ Дункан, Бен (1996). Высокопроизводительные усилители мощности звука . Эльзевир . п. 177. ИСБН 978-0-08-050804-7 .
- ^ Перейти обратно: а б «Выступление директора Янку на Международной конференции по интеллектуальной собственности 2019 года» . Ведомство США по патентам и товарным знакам . 10 июня 2019 г. Проверено 20 июля 2019 г.
- ^ «1963: Изобретена дополнительная конфигурация МОП-схемы» . Музей истории компьютеров . Проверено 6 июля 2019 г.
- ^ Патент США № 3 102 230 , подан в 1960 г., выдан в 1963 г.
- ^ Д. Канг и С.М. Зе, «Плавающий вентиль и его применение в устройствах памяти», Технический журнал Bell System , том. 46, нет. 4, 1967, стр. 1288–1295.
- ^ Колиндж, JP (2008). FinFET и другие многозатворные транзисторы . Springer Science & Business Media. п. 11. ISBN 978-0-387-71751-7 .
- ^ Сэкигава, Тошихиро; Хаяси, Ютака (1 августа 1984 г.). «Расчет пороговых вольт-амперных характеристик ХМОП-транзистора, имеющего дополнительный нижний затвор». Твердотельная электроника . 27 (8): 827–828. Бибкод : 1984SSEle..27..827S . дои : 10.1016/0038-1101(84)90036-4 . ISSN 0038-1101 .
- ^ «Получатели премии IEEE Эндрю С. Гроува» . Премия IEEE Эндрю С. Гроува . Институт инженеров электротехники и электроники . Проверено 4 июля 2019 г. [ мертвая ссылка ]
- ^ «Революционное преимущество ПЛИС с технологией Tri-Gate» (PDF) . Интел . 2014 . Проверено 4 июля 2019 г.
- ^ Джейкоб Миллман (1985). Электронные устройства и схемы . Сингапур: McGraw-Hill International . п. 397. ИСБН 978-0-07-085505-2 .
- ^ Перейти обратно: а б Джейкоб Миллман (1985). Электронные устройства и схемы . Сингапур: МакГроу-Хилл. стр. 384–385. ISBN 978-0-07-085505-2 .
- ^ Галуп-Монторо, К.; Шнайдер, MC (2007). Моделирование MOSFET для анализа и проектирования схем . Лондон/Сингапур: World Scientific . п. 83 . ISBN 978-981-256-810-6 .
- ^ Норберт Р. Малик (1995). Электронные схемы: анализ, моделирование и проектирование . Энглвуд Клиффс, Нью-Джерси: Прентис Холл. стр. 315–316. ISBN 978-0-02-374910-0 .
- ^ Спенсер, Р.Р.; Гаузи, М.С. (2001). Микроэлектронные схемы . Река Аппер-Сэддл, штат Нью-Джерси: Pearson Education/Prentice-Hall. п. 102. ИСБН 978-0-201-36183-4 .
- ^ Седра, А.С.; Смит, К.К. (2004). Микроэлектронные схемы (Пятое изд.). Нью-Йорк: Издательство Оксфордского университета. п. 552 . ISBN 978-0-19-514251-8 .
- ^ PR Грей; Пи Джей Херст; С.Х. Льюис; Р. Г. Мейер (2001). Анализ и проектирование аналоговых интегральных схем (Четвертое изд.). Нью-Йорк: Уайли. стр. §1.5.2 стр. 45. ИСБН 978-0-471-32168-2 .
- ^ Боб Йирка (10 января 2011 г.). «IBM создает первую интегральную схему на основе графена» . Физика.орг . Проверено 14 января 2019 г.
- ^ Лин, Ю.-М.; Вальдес-Гарсия, А.; Хан, С.-Дж.; Фермер, Д.Б.; Сан, Ю.; Ву, Ю.; Димитракопулос, К.; Гриль, А; Авурис, П; Дженкинс, К.А. (2011). «Интегральная схема графена в вафельном масштабе». Наука . 332 (6035): 1294–1297. Бибкод : 2011Sci...332.1294L . дои : 10.1126/science.1204428 . ПМИД 21659599 . S2CID 3020496 .
- ^ Бель Дюме (10 декабря 2012 г.). «Гибкий графеновый транзистор устанавливает новые рекорды» . Мир физики . Проверено 14 января 2019 г.
- ^ Шенинг, Майкл Дж.; Погосян, Аршак (2002). «Последние достижения в области биологически чувствительных полевых транзисторов (BioFET)» (PDF) . Аналитик . 127 (9): 1137–1151. Бибкод : 2002Ана...127.1137С . дои : 10.1039/B204444G . ПМИД 12375833 .
- ^ freepatentsonline.com , HIGFET и метод - Motorola]
- ^ Ионеску, AM; Риэль, Х. (2011). «Туннельные полевые транзисторы как энергоэффективные электронные переключатели». Природа . 479 (7373): 329–337. Бибкод : 2011Natur.479..329I . дои : 10.1038/nature10679 . ПМИД 22094693 . S2CID 4322368 .
- ^ Дюме, Изабель (12 декабря 2018 г.). «Топологический переключатель может создать новый тип транзистора» . Мир физики . Издательство ИОП . Проверено 16 января 2022 г.
- ^ «Органический транзистор открывает путь для новых поколений нейрокомпьютеров» . ScienceDaily . 29 января 2010 года . Проверено 14 января 2019 г.
- ^ Сарвари Х.; Гайур, Р.; Дастьерди, Э. (2011). «Частотный анализ полевого транзистора на основе графеновых нанолент с помощью неравновесной функции Грина в пространстве мод». Физика E: Низкоразмерные системы и наноструктуры . 43 (8): 1509–1513. Бибкод : 2011PhyE...43.1509S . дои : 10.1016/j.physe.2011.04.018 .
- ^ Ежи Рузылло (2016). Глоссарий по полупроводникам: ресурс для сообщества полупроводников . Всемирная научная. п. 244. ИСБН 978-981-4749-56-5 .
- ^ Аппенцеллер Дж. и др. (ноябрь 2008 г.). «На пути к нанопроводной электронике» . Транзакции IEEE на электронных устройствах . 55 (11): 2827–2845. Бибкод : 2008ITED...55.2827A . дои : 10.1109/тед.2008.2008011 . ISSN 0018-9383 . OCLC 755663637 . S2CID 703393 .
- ^ Пракаш, Абхиджит; Илатихамене, Хесамеддин; Ву, Пэн; Аппенцеллер, Йорг (2017). «Понимание управления контактами в транзисторах с барьером Шоттки из 2D-каналов» . Научные отчеты . 7 (1): 12596. arXiv : 1707.01459 . Бибкод : 2017НатСР...712596П . дои : 10.1038/s41598-017-12816-3 . ISSN 2045-2322 . OCLC 1010581463 . ПМК 5626721 . ПМИД 28974712 .
- ^ Миклош, Больца. «Что такое графеновые полевые транзисторы (GFET)?» . Графенея . Проверено 14 января 2019 г.
- ^ IBM Research представляет «VTFET»: революционную новую архитектуру микросхем, производительность которой в два раза выше finFET, декабрь 2021 г.
- ^ VIII.5. Шум в транзисторах
- ^ Аллен Моттерсхед (2004). Электронные устройства и схемы Сираджа . Нью-Дели: Прентис-Холл Индии. ISBN 978-81-203-0124-5 .
- ^ Бхалла, Ануп (17 сентября 2021 г.). «Происхождение SiC FET и их эволюция на пути к идеальному переключателю» . Новости силовой электроники . Проверено 21 января 2022 г.
- ^ Медленные отказы диодов полевых транзисторов (FET): практический пример .
- ^ Спорея, РА; Трейнор, MJ; Янг, Северная Дакота; Сильва, SRP (2014). «Транзисторы с истоковым управлением для повышения производительности на порядок в тонкопленочных цифровых схемах» . Научные отчеты . 4 : 4295. Бибкод : 2014NatSR...4E4295S . дои : 10.1038/srep04295 . ПМЦ 3944386 . ПМИД 24599023 .
Внешние ссылки
[ редактировать ]- PBS Полевой транзистор
- Как работают полупроводники и транзисторы (МОП-транзисторы) WeCanFigureThisOut.org
- Полевой транзистор
- Схема КМОП-затвора
- Победа в битве с Latchup в аналоговых КМОП-переключателях
- Полевые транзисторы в теории и практике
- Полевой транзистор как резистор, управляемый напряжением
- «Полевой транзистор (полевой транзистор)» . ролинихупетин (LRLinares). 30 марта 2013 г. — через YouTube .