Нион (компания)

Компания Нион
Тип компании	Дочерняя компания
Промышленность	Научно-технические приборы
Основан	1997
Основатели	Ондрей Криванек , Никлас Деллби
Штаб-квартира	Киркланд , Вашингтон
Родитель	Пользователь
Веб-сайт	я сказал ему .с
	Сноски/ссылки ;

Nion — производитель сканирующих трансмиссионных электронных микроскопов (STEM) со штаб-квартирой в Киркланде , штат Вашингтон . ^{[ 1 ]}

История

В 1997 году Ондрею Криванеку TJ Watson обратился к IBM Филип Бэтсон из Исследовательского центра и Никласу Деллби с просьбой создать корректор аберраций STEM. Криванек в то время был профессором-исследователем в Вашингтонском университете и решил заняться проектом с помощью новой компании. ^{[ 2 ]} Криванек и Деллби использовали грант Королевского общества в размере 120 000 долларов для создания своего первого корректора аберраций. Вскоре компания Nion сконструировала корректоры как сферической, так и хроматической аберрации , которые можно было модернизировать в существующие STEM. Огласка, полученная в результате этого достижения, привела к тому, что научное сообщество призвало создать микроскоп, построенный с нуля с учетом коррекции аберраций, который мог бы иметь потенциал для достижения разрешения ниже 0,5 ангстрем . ^{[ 3 ]}

После разработки корректоров аберраций в качестве модификации микроскопов компания Nion разработала свой первый микроскоп под названием UltraSTEM 1. ^{[ 4 ]} новый микроскоп с коррекцией аберраций и разрешающей способностью менее одного ангстрема. ^{[ 5 ]}^{[ 6 ]}

В 2008 году компания Nion представила SuperSTEM 2, обеспечивающий увеличение в 20 миллионов раз . SuperSTEM 2 был разработан в сотрудничестве с Ливерпульским университетом , Университетом Глазго , Университетом Лидса и лабораторией Дарсбери . ^{[ 7 ]}

сканирующий трансмиссионный электронный микроскоп Hermes по цене 3,7 миллиона фунтов стерлингов В 2015 году компания Nion поставила EPSRC в Великобритании . ^{[ 8 ]}

Награды

В 2020 году соучредитель Nion Ондрей Криванек получил премию Кавли в области нанонауки за работу по созданию первого сканирующего трансмиссионного электронного микроскопа с коррекцией аберраций и разрешением ниже одного ангстрема (0,1 нанометра). ^{[ 9 ]}^{[ 10 ]}^{[ 5 ]}

Приобретение

В январе 2024 года компания Nion была приобретена компанией Bruker , что позволило Bruker заняться производством электронных микроскопов . ^{[ 11 ]}

Ссылки

^ Jump up to: ^а ^б «Компания Нион — О Нионе» . www.nion.com . Архивировано из оригинала 19 мая 2024 г. Проверено 23 мая 2024 г.
^ Пул, Ребекка (21 ноября 2022 г.). «Нион: компания, которая изменила микроскопию» . Уайли Аналитическая наука . Архивировано из оригинала 24 мая 2024 г. Проверено 24 мая 2024 г.
^ Хоукс, PW (01 сентября 2015 г.). «Коррекция электронных аберраций линзы» . Ультрамикроскопия . 156 : А9–А12. дои : 10.1016/j.ultramic.2015.03.007 . ISSN 0304-3991 . ПМИД 26025209 .
^ «Микроскопы Киркланда могут исследовать вещество по одному атому за раз» . Сиэтл Таймс . 05 сентября 2010 г. Архивировано из оригинала 25 марта 2016 г. Проверено 25 мая 2024 г.
^ Jump up to: ^а ^б Бэтсон, ЧП; Деллби, Н.; Криванек, О.Л. (8 августа 2002 г.). «Разрешение субангстрем с использованием электронной оптики с коррекцией аберраций» . Природа . 418 (6898): 617–620. Бибкод : 2002Natur.418..617B . дои : 10.1038/nature00972 . ISSN 1476-4687 . ПМИД 12167855 .
^ «IBM и Nion создают электронный микроскоп высочайшего разрешения» . Фотонные спектры . 14 августа 2002 г. Архивировано из оригинала 25 мая 2024 г.
^ «Представление SuperSTEM 2» . Фотонные спектры . 25 января 2008 г. Архивировано из оригинала 25 мая 2024 г.
^ «Электронный микроскоп определяет положение отдельных атомов | Лабораторный разговор» . Laboratorytalk.com . Архивировано из оригинала 25 мая 2024 г. Проверено 24 мая 2024 г.
^ «Киркланд, мастер электронного микроскопа, получает одну из крупнейших научных наград» . Сиэтл Таймс . 27 мая 2020 г. Архивировано из оригинала 3 июня 2023 г. Проверено 23 мая 2024 г.
^ «Знакомьтесь с победителями премии Кавли 2020» . Научный американец . Архивировано из оригинала 22 сентября 2023 г. Проверено 23 мая 2024 г.
^ Пул, Ребекка (01 февраля 2024 г.). «Брукер с Нионом: Будущее» . Уайли Аналитическая наука . Архивировано из оригинала 23 мая 2024 г. Проверено 23 мая 2024 г.

[aboutpage-1] Jump up to: ^а ^б «Компания Нион — О Нионе» . www.nion.com . Архивировано из оригинала 19 мая 2024 г. Проверено 23 мая 2024 г.

[2] Пул, Ребекка (21 ноября 2022 г.). «Нион: компания, которая изменила микроскопию» . Уайли Аналитическая наука . Архивировано из оригинала 24 мая 2024 г. Проверено 24 мая 2024 г.

[3] Хоукс, PW (01 сентября 2015 г.). «Коррекция электронных аберраций линзы» . Ультрамикроскопия . 156 : А9–А12. дои : 10.1016/j.ultramic.2015.03.007 . ISSN 0304-3991 . ПМИД 26025209 .

[4] «Микроскопы Киркланда могут исследовать вещество по одному атому за раз» . Сиэтл Таймс . 05 сентября 2010 г. Архивировано из оригинала 25 марта 2016 г. Проверено 25 мая 2024 г.

[:0-5] Jump up to: ^а ^б Бэтсон, ЧП; Деллби, Н.; Криванек, О.Л. (8 августа 2002 г.). «Разрешение субангстрем с использованием электронной оптики с коррекцией аберраций» . Природа . 418 (6898): 617–620. Бибкод : 2002Natur.418..617B . дои : 10.1038/nature00972 . ISSN 1476-4687 . ПМИД 12167855 .

[6] «IBM и Nion создают электронный микроскоп высочайшего разрешения» . Фотонные спектры . 14 августа 2002 г. Архивировано из оригинала 25 мая 2024 г.

[7] «Представление SuperSTEM 2» . Фотонные спектры . 25 января 2008 г. Архивировано из оригинала 25 мая 2024 г.

[8] «Электронный микроскоп определяет положение отдельных атомов | Лабораторный разговор» . Laboratorytalk.com . Архивировано из оригинала 25 мая 2024 г. Проверено 24 мая 2024 г.

[9] «Киркланд, мастер электронного микроскопа, получает одну из крупнейших научных наград» . Сиэтл Таймс . 27 мая 2020 г. Архивировано из оригинала 3 июня 2023 г. Проверено 23 мая 2024 г.

[10] «Знакомьтесь с победителями премии Кавли 2020» . Научный американец . Архивировано из оригинала 22 сентября 2023 г. Проверено 23 мая 2024 г.

[11] Пул, Ребекка (01 февраля 2024 г.). «Брукер с Нионом: Будущее» . Уайли Аналитическая наука . Архивировано из оригинала 23 мая 2024 г. Проверено 23 мая 2024 г.

[ 1 ]

[ 2 ]

[ 3 ]

[ 4 ]

[ 5 ]

[ 6 ]

[ 7 ]

[ 8 ]

[ 9 ]

[ 10 ]

[ 11 ]