Список методов анализа материалов
(Перенаправлено из «Списка методов анализа поверхности »)
Это список методов анализа, используемых в материаловедении . Методы анализа перечислены по их аббревиатурам, если таковые существуют.
Символы
[ редактировать ]- μSR - см. мюонную спиновую спектроскопию
- χ – см. магнитная восприимчивость
А
[ редактировать ]- ААС – атомно-абсорбционная спектроскопия
- AED – Оже-дифракция электронов
- AES - электронная оже-спектроскопия
- АСМ – атомно-силовая микроскопия
- AFS - атомно-флуоресцентная спектроскопия
- Аналитическое ультрацентрифугирование
- APFIM - Атомно-зондовая полевая ионная микроскопия
- APS - Потенциальная спектроскопия внешнего вида
- ARPES - Фотоэмиссионная спектроскопия с угловым разрешением.
- ARUPS - УФ-фотоэмиссионная спектроскопия с угловым разрешением.
- ATR – ослабленное полное отражение
Б
[ редактировать ]- BET – измерение площади поверхности по BET (BET от Брунауэра, Эммета, Теллера)
- BiFC - Бимолекулярная флуоресцентная комплементация
- BKD - Дифракция Кикучи обратного рассеяния, см. EBSD.
- BRET – Резонансный перенос энергии биолюминесценции
- BSED - Дифракция обратных рассеянных электронов, см . EBSD.
С
[ редактировать ]- CAICISS – Спектроскопия рассеяния ионов при коаксиальном ударе
- CARS - когерентная антистоксова рамановская спектроскопия
- CBED – Дифракция электронов сходящимся пучком
- CCM - Микроскопия сбора заряда
- CDI – когерентная дифракционная визуализация
- CE – Капиллярный электрофорез
- CET – Криоэлектронная томография
- CL – Катодолюминесценция
- CLSM – конфокальная лазерная сканирующая микроскопия
- УЮТ – Корреляционная спектроскопия
- Крио-ЭМ – Криоэлектронная микроскопия
- Cryo-SEM – криосканирующая электронная микроскопия
- CV – Циклическая вольтамперометрия
Д
[ редактировать ]- DE(T)A – Диэлектрический термический анализ
- dHvA – эффект Де Хааса – Ван Альфена
- ДИК – Дифференциальная интерференционная контрастная микроскопия
- Диэлектрическая спектроскопия
- DLS – Динамическое рассеяние света
- DLTS - Переходная спектроскопия глубокого уровня
- DMA – Динамический механический анализ
- DPI - Интерферометрия двойной поляризации
- DRS - Спектроскопия диффузного отражения
- ДСК – Дифференциальная сканирующая калориметрия
- ДТА – Дифференциальный термический анализ
- DVS – Динамическая сорбция паров
И
[ редактировать ]- EBIC - Ток, индуцированный электронным лучом (см. IBIC: заряд, индуцированный ионным лучом)
- EBS - Спектрометрия упругого (нерезерфордовского) обратного рассеяния (см. RBS )
- EBSD – Дифракция обратного рассеяния электронов
- ECOSY – Эксклюзивная корреляционная спектроскопия
- ЭСТ – Электроемкостная томография
- EDAX – Энергодисперсионный анализ рентгеновских лучей
- EDMR - Электрически обнаруженный магнитный резонанс , см. ESR или EPR.
- EDS или EDX - Энергодисперсионная рентгеновская спектроскопия
- EELS - Спектроскопия потерь энергии электронов
- EFTEM - Просвечивающая электронная микроскопия с энергетической фильтрацией
- EID - Электронно-индуцированная десорбция
- EIT и ERT – электроимпедансная томография и электротомография резистивного типа.
- ЭЛ – Электролюминесценция
- Электронная кристаллография
- ELS – Электрофоретическое рассеяние света
- ЭНДОР – Электронно-ядерный двойной резонанс , см. ЭПР или ЭПР.
- ЭПМА – Электронно-зондовый микроанализ
- ЭПР - электронного парамагнитного резонанса . Спектроскопия
- ERD или ERDA — обнаружение упругой отдачи или обнаружения упругой отдачи . анализ
- ESCA – Электронная спектроскопия для химического анализа , см . XPS.
- ESD – Электронно-стимулированная десорбция
- ESEM – сканирующая электронная микроскопия окружающей среды
- ESI-MS или ES-MS - масс-спектрометрия с ионизацией электрораспылением или масс-спектрометрия электрораспылением.
- ЭПР – Спектроскопия электронного спинового резонанса
- ESTM – Электрохимическая сканирующая туннельная микроскопия
- EXAFS – тонкая структура с расширенным поглощением рентгеновских лучей.
- EXSY – Обменная спектроскопия
Ф
[ редактировать ]- FCS - Корреляционная спектроскопия флуоресценции
- FCCS - флуоресцентная кросс-корреляционная спектроскопия
- FEM – Автоэмиссионная микроскопия
- FIB – Фокусированная ионно-лучевая микроскопия
- FIM-AP – Полевая ионная микроскопия – атомный зонд
- Двулучепреломление потока
- Анизотропия флуоресценции
- FLIM – визуализация времени жизни флуоресценции
- Флуоресцентная микроскопия
- FOSPM - Функционально-ориентированная сканирующая зондовая микроскопия
- FRET – резонансный перенос энергии флуоресценции
- FRS – Спектрометрия прямой отдачи, синоним ERD.
- FTICR или FT-MS - ионный циклотронный резонанс с преобразованием Фурье или масс-спектрометрия с преобразованием Фурье
- FTIR - инфракрасная спектроскопия с преобразованием Фурье
Г
[ редактировать ]- ГХ-МС – Газовая хроматография-масс-спектрометрия
- GDMS – Масс-спектрометрия тлеющего разряда
- GDOS - Оптическая спектроскопия тлеющего разряда
- GISAXS - Малоугловое рассеяние рентгеновских лучей при скользящем падении
- GIXD - Дифракция рентгеновских лучей при скользящем падении
- GIXR - Отражательная способность рентгеновского излучения при скользящем падении
- ГЖХ – Газожидкостная хроматография
- ГПХ – гель-проникающая хроматография
ЧАС
[ редактировать ]- HAADF – получение изображений в темном поле под большим углом
- HAS – Рассеяние атомов гелия
- ВЭЖХ – высокоэффективная жидкостная хроматография
- HREELS - Спектроскопия потерь энергии электронов высокого разрешения
- HREM – Электронная микроскопия высокого разрешения
- HRTEM – Просвечивающая электронная микроскопия высокого разрешения.
- HI-ERDA – Анализ обнаружения упругой отдачи тяжелых ионов
- HE-PIXE – рентгеновское излучение, индуцированное протонами высокой энергии
я
[ редактировать ]- IAES - Ионно-индуцированная оже-электронная спектроскопия
- IBA – Ионно-лучевой анализ
- IBIC – индуцированного заряда Ионно-лучевая микроскопия
- ICP-AES - атомно-эмиссионная спектроскопия с индуктивно связанной плазмой
- ИСП-МС – масс-спектрометрия с индуктивно связанной плазмой
- Иммунофлуоресценция
- ICR – Ионный циклотронный резонанс
- IETS - Неупругая электронно-туннельная спектроскопия
- IGA – Интеллектуальный гравиметрический анализ
- IGF – синтез инертного газа
- IIX - Ионно-индуцированный рентгеновский анализ, см. Рентгеновское излучение, индуцированное частицами.
- INS – Спектроскопия ионной нейтрализации
- Неупругое рассеяние нейтронов
- ИРНДТ – Инфракрасный неразрушающий контроль материалов
- IRS – инфракрасная спектроскопия
- МКС – Спектроскопия рассеяния ионов
- ITC – Изотермическая титровальная калориметрия
- IVEM - Электронная микроскопия промежуточного напряжения
л
[ редактировать ]- LALLS – Малоугловое рассеяние лазерного света
- ЖХ-МС – Жидкостная хроматография-масс-спектрометрия
- LEED – дифракция низкоэнергетических электронов
- LEEM – Электронная микроскопия низких энергий
- LEIS – Рассеяние ионов низкой энергии
- LIBS - Спектроскопия лазерного пробоя
- LOES – Лазерная оптическая эмиссионная спектроскопия
- LS – Рассеяние света (Комбинационное)
М
[ редактировать ]- MALDI – Лазерная десорбция/ионизация с помощью матрицы
- MBE – Молекулярно-лучевая эпитаксия
- MEIS - Рассеяние ионов средней энергии
- МСМ – Магнитно-силовая микроскопия
- MIT – Магнитно-индукционная томография
- MPM - Многофотонная флуоресцентная микроскопия
- МРФМ – Магнитно-резонансная силовая микроскопия
- МРТ – Магнитно-резонансная томография
- МС – Масс-спектрометрия
- МС/МС – Тандемная масс-спектрометрия
- MSGE – Механически стимулированное газовыделение
- Мессбауэровская спектроскопия
- МТА – Микротермический анализ
Н
[ редактировать ]- NAA – Нейтронно-активационный анализ
- НД – нейтронная дифракция
- NDP – Профилирование нейтронов по глубине
- NEXAFS – Тонкая структура поглощения рентгеновских лучей на ближнем крае
- НИС – Ядерное неупругое рассеяние/поглощение
- ЯМР - Спектроскопия ядерного магнитного резонанса
- NOESY - Спектроскопия ядерного эффекта Оверхаузера
- НРА – Анализ ядерных реакций
- NSOM – Оптическая микроскопия ближнего поля
ТО
[ редактировать ]- OBIC – Ток, индуцированный оптическим лучом
- ОДНМР - магнитный резонанс, обнаруживаемый оптически, см. СОЭ или ЭПР.
- OES – Оптическая эмиссионная спектроскопия
- Осмометрия
П
[ редактировать ]- PAS - Спектроскопия позитронной аннигиляции
- Фотоакустическая спектроскопия
- PAT или PACT - фотоакустическая томография или фотоакустическая компьютерная томография.
- ПАКС – Фотоэмиссия адсорбированного ксенона.
- ПК или PCS – Фототоковая спектроскопия
- Фазово-контрастная микроскопия
- Кандидат технических наук – Фотоэлектронная дифракция
- ПД – Фотодесорбция
- PDEIS - Потенциодинамическая электрохимическая импедансная спектроскопия
- PDS - Спектроскопия фототермического отклонения
- PED – Фотоэлектронная дифракция
- PEELS - спектроскопия параллельных потерь энергии электронов
- PEEM - Фотоэмиссионная электронная микроскопия (или фотоэлектронно-эмиссионная микроскопия)
- PES - Фотоэлектронная спектроскопия
- PINEM - фотонно-индуцированная электронная микроскопия ближнего поля
- PIGE - гамма-спектроскопия, индуцированная частицами (или протонами), см. Анализ ядерных реакций.
- PIXE - Рентгеновская спектроскопия, индуцированная частицами (или протонами).
- ПЛ – Фотолюминесценция
- Порозиметрия
- Порошковая дифракция
- ПТМС – Фототермическая микроспектроскопия
- PTS - Фототермическая спектроскопия
вопрос
[ редактировать ]Р
[ редактировать ]- Рамановская спектроскопия
- RAXRS – Резонансное аномальное рассеяние рентгеновских лучей
- RBS - резерфордовского обратного рассеяния Спектрометрия
- РЭМ – Отражательная электронная микроскопия
- RDS - Разностная спектроскопия отражения
- RHEED - Дифракция электронов высоких энергий в отражении.
- RIMS - Масс-спектрометрия с резонансной ионизацией
- RIXS – Резонансное неупругое рассеяние рентгеновских лучей.
- RR-спектроскопия - Резонансная рамановская спектроскопия
С
[ редактировать ]- SAD – дифракция выбранной области
- SAED - Дифракция электронов на выбранной области
- SAM – сканирующая оже-микроскопия
- SANS - Малоугловое рассеяние нейтронов
- SAXS - Малоугловое рассеяние рентгеновских лучей
- СКАНИР – Состав поверхности методом анализа нейтральных веществ и ионно-ударного излучения
- SCEM – сканирующая конфокальная электронная микроскопия
- SE – Спектроскопическая эллипсометрия
- SEC – Эксклюзионная хроматография
- SEIRA - Спектроскопия инфракрасного поглощения с усилением поверхности
- СЭМ – сканирующая электронная микроскопия
- SERS - Рамановская спектроскопия с улучшенной поверхностью
- SERRS - резонансная рамановская спектроскопия с усилением поверхности
- SESANS – Спиновое эхо, малоугловое рассеяние нейтронов
- SEXAFS - Тонкая структура поверхностного поглощения рентгеновских лучей
- SICM – сканирующая микроскопия ионной проводимости
- SIL – Твердая иммерсионная линза
- SIM – твердое иммерсионное зеркало
- ВИМС - Масс-спектрометрия вторичных ионов
- SNMS - Масс-спектрометрия распыленных нейтральных частиц
- СБОМ – Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия
- ОФЭКТ – Однофотонная эмиссионная компьютерная томография.
- СЗМ – Сканирующая зондовая микроскопия
- мониторингом выбранных реакций с капиллярным электрофорезом и SRM-CE/MS – Масс-спектрометрия
- SSNMR - Твердотельный ядерный магнитный резонанс
- Штарковская спектроскопия
- STED - Микроскопия истощения стимулированного излучения
- STEM – сканирующая трансмиссионная электронная микроскопия
- СТМ – сканирующая туннельная микроскопия
- СТС – Сканирующая туннельная спектроскопия
- SXRD - Поверхностная рентгеновская дифракция
Т
[ редактировать ]- ТАТ или ТАКТ – термоакустическая томография или термоакустическая компьютерная томография (см. также фотоакустическая томография – ПАТ).
- ПЭМ – Просвечивающая электронная микроскопия
- ТГА – термогравиметрический анализ
- ТИКА – Кинетический анализ пропускающих ионов
- TIMS - масс-спектрометрия с термоионизацией
- TIRFM - Флуоресцентная микроскопия полного внутреннего отражения
- TLS - Фототермическая линзовая спектроскопия, разновидность фототермической спектроскопии.
- ТМА – Термомеханический анализ
- TOF-MS – Времяпролетная масс-спектрометрия
- Микроскопия двухфотонного возбуждения
- TXRF – рентгенофлуоресцентный анализ полного отражения
В
[ редактировать ]- Спектроскопия затухания ультразвука
- УПС – УФ-фотоэлектронная спектроскопия
- USANS – Сверхмалоугловое рассеяние нейтронов
- USAXS – Сверхмалоугловое рассеяние рентгеновских лучей
- UT – Ультразвуковой контроль
- UV-Vis - Ультрафиолетово-видимая спектроскопия
V
[ редактировать ]- с видеоусилением VEDIC - Дифференциальная интерференционная контрастная микроскопия
- Вольтамперометрия
В
[ редактировать ]- WAXS – Широкоугольное рассеяние рентгеновских лучей
- WDX или WDS - рентгеновская спектроскопия с дисперсией по длине волны
Х
[ редактировать ]- XAES - рентгеновская оже-электронная спектроскопия
- XANES – XANES , синоним NEXAFS (тонкая структура ближнего поглощения рентгеновских лучей)
- XAS - рентгеновская абсорбционная спектроскопия
- X-CTR - рентгеновского кристалла на усеченном стержне рассеяние
- Рентгеновская кристаллография
- XDS – диффузное рассеяние рентгеновских лучей
- XPEEM – рентгеновская фотоэлектронно-эмиссионная микроскопия
- XPS - рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия
- XRD – дифракция рентгеновских лучей
- XRES – резонансное обменное рассеяние рентгеновских лучей.
- XRF – рентгенофлуоресцентный анализ
- XRR – отражательная способность рентгеновских лучей
- XRS - комбинационное рассеяние рентгеновских лучей.
- XSW – стоячей рентгеновской волны. метод
См. также
[ редактировать ]Ссылки
[ редактировать ]- Каллистер, WD (2000). Материаловедение и инженерия – Введение . Лондон: Джон Уайли и сыновья. ISBN 0-471-32013-7 .
- Яо, Н., изд. (2007). Системы сфокусированного ионного пучка: основы и применение . Кембридж, Великобритания: Издательство Кембриджского университета. ISBN 978-0-521-83199-4 .